Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

GermanEbook
Baumann, Peter
Springer Fachmedien Wiesbaden
EAN: 9783834824950
Available online
€20.58
Common price €22.87
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pc

Detailed information

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

EAN 9783834824950
ISBN 383482495X
Binding Ebook
Publisher Springer Fachmedien Wiesbaden
Publication date September 28, 2012
Language German
Country Germany
Authors Baumann, Peter