Mikroelektronik 89

Mikroelektronik 89

GermanEbook
Lechner, A.
Springer Vienna
EAN: 9783709190739
Available online
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pc

Detailed information

Die Informationstagung "Mikroelektronik" findet im Rahmen der ie (Internationale Fachmesse für industrielle Elektronik) seit dem Jahr 1975 im Abstand von zwei Jahren statt. Die Einzelbeiträge der Tagung 1989 werden in dem vorliegenden Band in übersichtlicher Form präsentiert; sie geben einen guten Überblick über den aktuellen Stand der Technik und über Trends auf dem Gebiet der Mikroelektronik. Berichte über konkrete Anwendungen, Methoden und Entwicklungen werden leicht verständlich vorgestellt. Die Autoren kommen aus Industrie und Forschung; dadurch ist gewährleistet, daß sowohl theorie- als auch praxisbezogene Erkenntnisse und Produkte behandelt werden. Der Band umfaßt folgende Themenkreise: Mensch-Maschine-Schnittstellen, Mobilkommunikation, Flexible Automation und Qualitätssicherung, Sensoren und Interfaces.
EAN 9783709190739
ISBN 3709190738
Binding Ebook
Publisher Springer Vienna
Publication date November 21, 2013
Language German
Country Uruguay
Authors Arnold, H.; Baier, J.; Bajenescu, Titu I.; Barbier, K.; Bartelt, F.; Becker, M.; Benes, E.; Beszedics, U.; Blind, C.; Brenner, E.; Buhler, H.; Buschbeck, F.; Casari, Robert; Diskus, C.; Doblinger, G.; Donhoffer, D.; Eder, W.; Eier, R.; Fasching, R.; Fey, P.; Fleischanderl, G.; Fleischmann, H.; Frohling, Peter W.; Fugger, E.; Furst, H.; Furtner, F.; Garn, H.; Gaspar-Ruppert, W.; Geis, K.; Golau, A.; Gottwald, A.; Graber, G.; Grechenig, T.; Groschl, M.; Gunther, Johann; Guttler, G.; Halang, W. A.; Heinze, Ch.; Heiss, M.; Hetzendorf, G.; Hollinger, W.; Holzer, M.; Horak, G.; Hornbachner, D.; Huber, H.; Immitzer, F.; Jachimowicz, A.; Jaeger, J.; Jerono, W.; Jobst, G.; Kamper, H.; Kasatschinskij, W.; Kirchner, D.; Klosch, W.; Kohl, F.; Kohl, J.; Koschnick, P.; Kosta, W.; Krenn, A.; Kreuzgruber, P.; Kuttner, H.; Leber, K.; Lechner, A.; Leopold, H.; Lind, K.; Low, P.; Lubke, K.; Mann-Buxbaum, E.; Marschik, W.; Megner, P.; Messaros, R.; Mokry, M.; Moshammer, K.; Nedelik, A.; Nedetzky, W.; Nemsic, B.; Neumann, R.; New