Determinación de exponentes críticos en películas delgadas

Este trabajo es el resultado de una investigación realizada en la tesis de Maestría en Ciencias Físicas, de la Universidad Nacional de Colombia. Se plantea el desarrollo de algoritmos en Matlab® para calcular los exponentes críticos de la transición de fase magnética, para materiales tanto homogéneos como in homogéneos. Para esto se utilizan métodos bastante conocidos como el diagrama de Arrott, y el diagrama de Arrott-Noakes modificado, los cuales solo funcionan para materiales homogéneos. También se presenta un programa para calcular los exponentes críticos en el caso de materiales inhomogéneos, el cual se basa en el método de Andreas Berger. Los anteriores programas se emplean para estudiar la transición de fase ferromagnética paramagnética de láminas delgadas con alto grado de homogeneidad de Cr-Gd-Cr. Se estiman valores para los exponentes críticos de de , y que caracterizan la transición. Así mismo, se lleva a cabo el cálculo de la temperatura crítica Tc para cada muestra. Finalmente, se propone un nuevo método para calcular los exponentes críticos para materiales con bajo grado de inhomogeneidad cuando el método de Kouver Fisher no converge.