New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy

New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy

AngličtinaPevná väzba
Shimizu Kenichi
Springer, Berlin
EAN: 9783642031595
Na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 22. júla 2025
96,61 €
Bežná cena: 107,34 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné

Podrobné informácie

In modern scanning electron microscopy, sample surface preparation is of key importance, just as it is in transmission electron microscopy. With the procedures for sample surface preparation provided in the present book, the enormous potential of advanced scanning electron microscopes can be realized fully. This will take the reader to an entirely new level of scanning electron microscopy and finely-detailed images never seen before.

EAN 9783642031595
ISBN 3642031595
Typ produktu Pevná väzba
Vydavateľ Springer, Berlin
Dátum vydania 1. decembra 2009
Stránky 182
Jazyk English
Rozmery 235 x 155
Krajina Germany
Čitatelia Postgraduate, Research & Scholarly
Autori Mitani Tomoaki; Shimizu Kenichi
Ilustrácie XIV, 182 p. 102 illus., 25 illus. in color.
Edícia 2010 ed.
Séria Springer Series in Surface Sciences
Informácie o výrobcovi
Kontaktné informácie výrobcu momentálne nie sú dostupné online, na náprave intenzívne pracujeme. Ak informáciu potrebujete, napíšte nám na helpdesk@megabooks.sk, radi vám ju poskytneme.