Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique

Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.